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专利
一个光电耦合环境可控原子力显微测试系统
专利类别： 实用新型
申请号： CN201621310084.X
专利号： ZL201621310084.X
申请日期： 2016/12/1
发明人： 杨春鹏
其他发明人： 杨春鹏; 刘志文; 包西昌; 李茹; 燕晓飞; 李飞
授权日期： 2017/5/24
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