专利
一种多维调控电离条件的原位电离分析装置及分析方法
专利类别: 发明授权
申请号: CN201810069644.4
专利号: ZL201810069644.4
申请日期: 2018/1/24
发明人: 赵宗山
其他发明人: 赵宗山; 田永; 刘欢; 刘爱风; 高威
授权日期: 2020/11/10